OptoSURF

Le système OptoSURF est un profilomètre optique plein champ haute résolution et modulaire pour la mesure de microstructures et états de surface.

Cette station de mesure peut être adaptée à l’application et à la taille de l’échantillon avec des degrés d’automatisme plus ou moins complets.

Il permet de caractériser aussi bien les surfaces super polies (semi-conducteur et optique) que les surfaces structurées (métal, plastique, ongles, cheveux…).

Le logiciel OptoSURF prend en charge l’acquisition et l’analyse des données 3D de surface : rugosité, porosité, densité de motifs de structures, détection et classification de défauts…

Véritable outil d’aide au suivi de procédé de fabrication, il répond aux exigences de la métrologie fine des états de surfaces.   

NanoPRO

Le NanoPRO est un profilomètre optique plein champ haute résolution et compact pour la mesure de la géométrie de composants optiques.  

Destiné à la mesure de planéité ou de courbures de surfaces polies, les mesures peuvent être effectuées sur des surfaces étendues grâce aux tables de déplacement et au couplage de zones.

Le logiciel Optosurf prend en charge l’acquisition et l’analyse des données 3D de surface : ondulation, forme.

Il est destiné aux laboratoires de caractérisation des synchrotrons et aux fabricants et intégrateurs d’optiques spatiales.