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Imagerie 3D haute résolution

EvaSKIN

Le système EvaSKIN est un capteur de numérisation 3D haute résolution à champ fixe moyen pour la mesure de la forme locale et du relief cutané sur le vivant.

Associé au banc de positionnement VisioTOP il permet d’obtenir des images 3D locales reproductibles sur le visage à différents temps de mesure.

Le logiciel AEVA permet la gestion des mesures d’études cliniques en quantifiant les variations sur le microrelief, les pores, les rides et ridules, les plis et les volumes, afin d’évaluer l’efficacité de produits de soins et anti-âge sur un panel de volontaires.

C’est une solution économique, standard et clé en main qui s’adresse aux fabricants d’ingrédients, de produits cosmétiques ou dermatologiques ainsi qu’aux laboratoires de recherche et d’objectivation.

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Applications

  • Visage (rides, ridules et pores, glabella, cernes, plis nasogéniens, lèvres, affaissement)
  • Test d’efficacité du produit dermo-cosmétique, esthétique ou dermatologique
  • Suivi des traitements cutanés
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Avantages

  • Système haute performance, robuste et reproductible
  • Système flexible offrant une analyse locale
  • Simplicité d’utilisation, un minimum de contexte et compétences requises
  • Bon rapport performance prix

Produits associés

VisioTOP-300

Step gauge

Plaque de calibrage

VisioTOP-300

Le VisioTOP-300 est lui destiné au système DermaTOP-HE, EvaSKIN-S5 et EvaFACE-S5 pour les mesures locales ou globales sur le visage celons le capteur.

Step gauge

Le Step Gauge est un calibre de marche certifié par EOTECH afin de valider le calibrage en Z des systèmes à projection de franges.

Plaque de calibrage

Ces plaques de calibrage permettent de calibrer les systèmes de numérisation 3D Aicon.
Elles sont en fibres de carbone pour garantir une excellente stabilité dimensionnelle et présentent un réseau de cibles. Les positions relatives des centres de gravités des cibles sont calibrées par photogrammétrie haute précision.
Plusieurs dimensions de plaque de calibrage sont disponibles, adaptées aux différents champs de mesure des capteurs 3D.