Vous utilisez un navigateur dépassé et vous ne pouvez donc pas profiter de toutes les fonctionnalités du site. Nous vous invitons à utiliser un autre navigateur pour une meilleure expérience : Google Chrome, Mozilla firefox ou même Microsoft Edge.
Caractérisation des états de surface

OptoSURF

Le système OptoSURF est un profilomètre optique plein champ haute résolution et modulaire pour la mesure de microstructures et états de surface.

Cette station de mesure peut être adaptée à l’application et à la taille de l’échantillon avec des degrés d’automatisme plus ou moins complets.

Il permet de caractériser aussi bien les surfaces super polies (semi-conducteur et optique) que les surfaces structurées (métal, plastique, ongles, cheveux…).

Le logiciel Optosurf prend en charge l’acquisition et l’analyse des données 3D de surface : rugosité, porosité, densité de motifs de structures, détection et classification de défauts…

Véritable outil d’aide au suivi de procédé de fabrication, il répond aux exigences de la métrologie fine des états de surfaces.   

✓

Applications

  • Etats de surface : super poli optique, semi-conducteur
  • Micro structures : métaux, polymères, plastics, textile, papier
  • Ex-Vivo : cheveux, ongles
+

Avantages

  • Un résolution sub-nanométrique
  • Multiple mode de mesure
  • Adaptable à toute taille d'échantillons

Produits associés

MiniSURF

MiniSURF

Le MiniSURF est un profilomètre optique plein champ compact pour la mesure de microstructures et états de surface sur de petits échantillons.