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Mesure 3D des surfaces

OptoSURF

Profilomètre optique interférométrique plein champ conçu sur une base microscope par réflectance. Ce profilomètre propose plusieurs modes de mesure, de l’interférométrie à décalage de phase, à balayage de franges, ou confocal selon les états de surface ou les structures à mesurer. Un logiciel prend en charge l’acquisition et l’analyse des données 3D de surface ( visualisation, rugosités, défauts etc.)

Ce système se décline selon plusieurs versions pour petits ou grands, voire très grands échantillons avec des degrés d’automatisme plus ou moins complet.

La plage de mesure en Z va du dixième de nanomètre à la centaine de microns selon le mode de mesure utilisé.

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Applications

  • Etats de surface super poli optique, semi-conducteur
  • Micro structures métaux, polymères, plastics, textile, papier
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Avantages

  • Un résolution sub-nanométrique
  • Adaptable à toute taille d'échantillons