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Métrologie

Caractérisation des états de surface

Des profilométres interférométriques plein champ pour la mesure de rugosité, état de surface et micro-structures.

Mesure de micro-déplacement

Une gamme complète de capteur de mesure de micro déplacements sans contact; fréquences élevées, environnements sous vide ou à températures extrêmes.

Caractérisation des sources lumineuses

LMT, Hagner et Irradiant sont nos partenaires pour la mesure et la caractérisations des sources lumineuses pour le visible et le proche infra rouge.