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Mesure 3D des surfaces

NanoPRO

Ce profilomètre optique par imagerie offre une résolution sub-nanométrique. Il est basé sur une technologie d’interférométrie à décalage de phase.

Destiné à la mesure de planéité de surfaces polies, les mesures sont rapides et peuvent être effectuées sur des surfaces étendues grâce aux tables de déplacement et au couplage de zones.

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Applications

  • Mesure de planéité de surfaces polies
  • Mesure de rugosité
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Avantages

  • Mesure haute résolution
  • Mesure étendue par couplage de zones
  • Logiciel d'analyses et de pilotage intuitif
  • Alignement des surfaces unique haute performance

Documentation

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