EOTECH - Métrologies de surfaces - rugosité- profils - formes 3D - déplacements - photométrie - colorimétrie

English English
    Recherche par mots-clés
    Liste des produits

    Instrumentation - Métrologie 3D des surfaces

    OptoSURF

    Microscope interférométrique à décalage de phase ou en mode confocal lumière blanche - Contrôle d’état de surface- rugosité - topographies - Profilomètrie de microstructures - Gamme de mesure Z étendue de 0.1 nm à 100 µm.

    Avec une résolution inférieure au nanomètre, ce système s'adresse aux mesures de surface polies et super-polies aussi bien que des surfaces de tout type, rugueuses ou pas. Décliné en plusieurs versions, il s'adapte à la taille et au poids des échantillons.

    Téléchargement PDF
    Nos partenaires
    • EOTECH
    POUR TOUTE INFORMATION
    SUR CE PRODUIT
    VOUS POUVEZ NOUS CONTACTER
    AU
    tel +33 (0)1 64 49 71 30
    ou cliquez ici