Cette station de mesure peut être adaptée à l’application et à la taille de l’échantillon avec des degrés d’automatisme plus ou moins complets.

Il permet de caractériser aussi bien les surfaces super polies (semi-conducteur et optique) que les surfaces structurées (métal, plastique, ongles, cheveux…).

Le logiciel OptoSURF prend en charge l’acquisition et l’analyse des données 3D de surface : rugosité, porosité, densité de motifs de structures, détection et classification de défauts…

Véritable outil d’aide au suivi de procédé de fabrication, il répond aux exigences de la métrologie fine des états de surfaces.   

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